Просмотр по автору "Samarina, A. Y."

Просмотр по автору "Samarina, A. Y."

Отсортировать по:Порядку:Результатам:

  • Дефектоскопия полимерных композиционных материалов методами зондовой электрометрии 
    Пантелеев, К. В.; Тявловский, А. К.; Свистун, А. И.; Жарин, А. Л.; Самарина, А. В.; Pantsialeyeu, K. Y.; Tyavlovsky, A. K.; Svistun, A. I.; Zharin, A. L.; Samarina, A. Y. (Белорусско-Российский университет, 2017)
    Приводятся методические и экспериментальные результаты исследований влияния светового воздействия на изменение электронной подсистемы полимерных композиционных материалов. В качестве средств контроля применен сканирующий ...
  • Методы картирования приборных слоев полупроводниковых пластин 
    Воробей, Р. И.; Гусев, О. К.; Жарин, А. Л.; Пантелеев, К. В.; Самарина, А. В.; Свистун, А. И.; Тявловский, А. К.; Тявловский, К. Л.; Vorobey, R. I.; Gusev, O. K.; Zharin, A. L.; Pantsialeyeu, K. Y.; Samarina, A. Y.; Svistun, A. I.; Tyavlovsky, A. K.; Tyavlovsky, K. L. (Белорусско-Российский университет, 2017)
    Выполнен сравнительный анализ методов картирования приборных слоев полупроводниковых пластин. Показана перспективность методов на основе регистрации изменений потенциала поверхности зондовым электрометрическим преобразователем ...