Browsing by Subject "spectral ellipsometry"

Browsing by Subject "spectral ellipsometry"

Sort by: Order: Results:

  • Влияние температуры отжига на оптические характеристики тонких пленок сульфида индия 
    Стаськов, Н. И.; Парашков, С. О.; Чудаков, Е. А. (Белорусско-Российский университет, 2022)
    Исследованы оптические свойства пленок сульфида индия (In2S3), отожженных при температурах 350 °C и 450 °C, на подложке из известково-натриевого стекла. Пленки получены методом высокочастотного магнетронного распыления ...
  • Оптические характеристики слоя оксида цинка, допированного алюминием 
    Стаськов, Н. И.; Ивашкевич, И. В.; Михеев, С. С.; Staskov, N. I.; Ivashkevich, I. V.; Mikheev, S. S. (Белорусско-Российский университет, 2017)
    Оптические свойства слабо поглощающей полупроводниковой пленки Zn0:Al на стеклянной подложке K8 определяются методами спектрофотометрии и спектральной эллипсометрии. Optical properties of the low absorbing semiconductor ...
  • Спектральная эллипсометрия перовскитных пленок 
    Ивашкевич, И. В.; Стаськов, Н. И.; Филиппов, В. В.; Шулицкий, Б. Г.; Кашко, И. А.; Ivashkevich, I. V.; Staskov, N. I.; Philippov, V. V.; Shulitsky, B. G.; Casco, I. A. (Белорусско-Российский университет, 2017)
    Методом спектральной эллипсометрии получены дисперсионные зависимости показателей преломления и поглощения пленок PEDOT:PSS и йодсвинцового перовскита. Obtained dispersion dependence of the refractive index and absorption ...
  • Спектрофотометрия слоя оксида цинка, допированного алюминием, на пластине К8 
    Стаськов, Н. И.; Филиппов, В. В.; Шулицкий, Б. Г.; Кашко, И. А.; Staskov, N. I.; Philippov, V. V.; Shulitsky, B. G.; Casco, I. A. (Белорусско-Российский университет, 2017)
    Ширина запрещенной зоны слоя оксида цинка с двухпроцентным содержанием алюминия, определенная по спектрам пропускания и отражения, удовлетворительно коррелирует с соответствующей величиной из формулы Adachi-New Forouhi по ...
  • Учет влияния естественного поверхностного слоя при исследовании кремниевых пластин методом спектральной эллипсометрии 
    Стаськов, Н. И.; Ивашкевич, И. В.; Сотский, А. Б.; Сотская, Л. И.; Stas’kov, N. I.; Ivashkevich, I. V.; Sotski, A. B.; Sotskaya, L. I. (2012)
    Исследуется возможность исключения влияния естественного поверхностного слоя при определении методом спектральной эллипсометрии дисперсии показателей преломления n(λ) и поглощения k(λ) полупроводниковой подложки. Показано, ...

Search DSpace

Browse

My Account