Просмотр по теме/специальности "waveguide spectroscopy"

Просмотр по теме/специальности "waveguide spectroscopy"

Отсортировать по:Порядку:Результатам:

  • Shulga, A.; Shilova, I.; Шилова, И. В.; Шульга, А. В. (2017)
    A new technique of intracavity waveguide spectroscopy for investigating planar waveguide was proposed. It’s based on recording and processing angular spectrum of a light beam reflected from a prism coupler in case of ...
  • Хомченко, А. В.; Примак, И. У.; Войтенков, А. И.; Кульбенков, В. М.; Khomchenko, A. V.; Primak, I. U.; Voytenkov, A. I.; Kul`benkov, V. M. (Белорусско-Российский университет, 2020)
    Продемонстрирована возможность измерения двулучепреломления в неоднородных анизотропных средах методом волноводной спектроскопии. Исследованы возможности и границы применения метода при анализе распределения величины ...
  • Шульга, А. В.; Шилова, И. В.; Хомченко, А. В.; Томов, А. В.; Shulga, A. V.; Shilova, I. V.; Khomchenko, A. V.; Tomov, A. V. (Белорусско-Российский университет, 2017)
    Предложен метод внутрирезонаторной волноводной спектроскопии тонкоплёночных структур, основанный на регистрации и обработке углового спектра светового пучка, отражённого от призменного устройства связи в случае возбуждения ...
  • Сотский, А. Б.; Чудаковский, П. Я.; Примак, И. У.; Сотская, Л. И. (УО "Гомельский государственный университет им. Франциска Скорины", 2011)
    Рассматривается модель призменного устройства возбуждения мод оптических волноводов, имеющих ограниченную протяженность. Проанализированы решения прямой и обратной задач волноводной спектроскопии с учетом дифракционных ...
  • Примак, И. У.; Хомченко, А. В.; Primak, I. U.; Khomchenko, A. V. (Белорусско-Российский университет, 2017)
    Представлены результаты исследования изменения волноводных свойств полупроводниковых пленок при адсорбции молекул газа на их поверхности. Для пленок из двуокиси олова промоделировано изменение оптических потерь в условиях ...
  • Примак, И. У.; Хомченко, А. В.; Драница, А. Е.; Казаченко, Н. И.; Primak, I. U.; Khomchenko, A. V.; Dranica, A. E.; Kasachenko, N. I. (Белорусско-Российский университет, 2017)
    Рассмотрены особенности и пределы применимости методов измерения параметров тонкопленочных структур, основанных на регистрации угловой зависимости коэффициента отражения светового пучка в схеме призменного возбуждения ...