http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/12966 2026-04-06T02:27:37Z 2026-04-06T02:27:37Z Шилов, А. В. Сотский, А. Б. Shilov, A. V. Sotsky, А. B. http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/13086 2020-10-08T06:58:45Z 2020-01-01T00:00:00Z

Структурная окраска синтетических фотонно-кристаллических волокон с кластерной компоновкой воздушных каналов Шилов, А. В.; Сотский, А. Б.; Shilov, A. V.; Sotsky, А. B. Рассмотрена проблема достижения выраженной структурной окраски синтетических фотонно-кристаллических волокон. Показано, что возможный путь ее решения – использование кластерной компоновки внутренних воздушных каналов волокна. The problem of achieving a pronounced structural color of synthetic photoniccrystal fibers is considered. It is shown that a possible way of its solution is the use of a cluster arrangement of the internal air channels of the fiber.

2020-01-01T00:00:00Z Шилов, А. В. Боровикова, С. А. Кушнер, А. В. Новиков, В. А. Shilov, A. V. Borovikova, S. A. Kushner, A. V. Novikov, V. A. http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/13083 2021-03-04T12:42:18Z 2020-01-01T00:00:00Z

Контрольный образец для дефектоскопии ферромагнитных объектов методом визуализирующей пленки Шилов, А. В.; Боровикова, С. А.; Кушнер, А. В.; Новиков, В. А.; Shilov, A. V.; Borovikova, S. A.; Kushner, A. V.; Novikov, V. A. Определены условия, обеспечивающие высокую чувствительность контроля ферромагнитных объектов методом визуализирующей пленки. При их соблюдении получены изображения индикаторных рисунков протяженных несплошностей, находящихся на различной глубине, в образце. Построены графики зависимостей, позволяющие определить глубину залегания дефекта и его величину, что в совокупности позволит повысить достоверность определения глубины залегания и величины дефекта в объекте контроля с близкими магнитными свойствами. Conditions providing high sensitivity of ferromagnetic object control by method of visualizing film are determined. If they are observed, images of indicator patterns of extended irregularities located at different depths in the sample are obtained. Dependencies graphs are constructed, which allow to determine depth of defect occurrence and its value, which together will make it possible to increase determination reliability of depth of defect occurrence and value of defect in object of control with close magnetic properties.

2020-01-01T00:00:00Z Шарандо, В. И. Чернышёв, А. В. Кременькова, Н. В. Sharando, V. I. Chernyshev, A. V. Kremenkova, N. V. http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/13080 2020-10-08T06:48:45Z 2020-01-01T00:00:00Z

Отстройка от влияния структуры при контроле никелевых покрытий толщиномерами типа МТЦ Шарандо, В. И.; Чернышёв, А. В.; Кременькова, Н. В.; Sharando, V. I.; Chernyshev, A. V.; Kremenkova, N. V. Обоснована возможность применения серийных приборов МТЦ-3-1 и МТЦ-3-2 для измерения толщины никелевых покрытий на неферромагнитных основаниях с учётом условий их нанесения и термической обработки. Предложена методика устранения погрешностей контроля, связанных с различиями в структуре никеля, а также оценки уровня механических напряжений в контролируемых покрытиях. The possibility of using serial devices MTC-3-1 and MTC-3-2 for measuring the thickness of nickel coatings on non-ferromagnetic substrates is substantiated, taking into account the conditions of their application and heat treatment. The proposed method of eliminating errors in control, arising from differences in the structure of nickel, as well as for evaluating the level of mechanical stress in controlled coating.

2020-01-01T00:00:00Z Чернышев, А. В. Загорский, И. Е. Шарандо, В. И. Chernyshev, A. V. Zagorskiy, I. E. Sharando, V. I. http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/13076 2020-10-08T06:42:32Z 2020-01-01T00:00:00Z

Контроль толщины хромового покрытия на никелевом основании вихретоковым методом Чернышев, А. В.; Загорский, И. Е.; Шарандо, В. И.; Chernyshev, A. V.; Zagorskiy, I. E.; Sharando, V. I. Рассмотрен вопрос контроля толщины хромового покрытия вихретоковым методом. Приведены результаты экспериментальных измерений толщины хромового покрытия на образцах с различной удельной электропроводностью. Показано, что для повышения точности измерений толщины хромового покрытия фазовым способом необходимо учитывать величину его удельной электропроводности. The issue of controlling the thickness of the chrome coating by the eddy current method is considered. The results of experimental measurements of the thickness of the chromium coating on samples with different electrical conductivity are presented. It is shown that in order to increase the accuracy of measuring the thickness of the chrome coating by the phase method, it is necessary to take into account the value of its electrical conductivity.

2020-01-01T00:00:00Z