http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/22363 Sun, 12 Apr 2026 16:18:02 GMT 2026-04-12T16:18:02Z http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/22413 Магнитодинамическая толщинометрия немагнитных покрытий на деформированной стали 12Х18Н10Т Шарандо, В. И.; Чернышев, А. В.; Кременькова, Н. В.; Пиунов, В. Д. Выполнены исследования по толщинометрии немагнитных покрытий на пластически деформированной аустенитной стали 12Х18Н10Т с помощью магнитодинамического метода. Приведены зависимости сигнала толщиномера МТЦ-3-2 от толщины покрытия в диапазоне 0…2500 мкм при степенях деформации основания 0 %…50 %, которые могут выбираться в качестве градуировочных на основе измерений сигнала на непокрытом основании. Показана возможность построения общей градуировочной кривой для разных степеней деформации основания. Studies on the thickness measurement of non-magnetic coatings on plastically deformed austenitic steel 12Cr18Ni10Ti using the magnetodynamic method have been carried out. The dependences of the MTC-3-2 thickness meter signal on the coating thickness in the range of 0…2500 µm are given for base deformation degrees 0 %...50 %, which can be selected as calibration ones based on signal measurements on uncoated base. The possibility of constructing the general calibration curve for different degrees of deformation of the base is shown. Sat, 01 Jan 2022 00:00:00 GMT http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/22413 2022-01-01T00:00:00Z http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/22412 Наноиндентирование и определение дифракцией нейтронов деформированного состояния материала Чижик, С. А.; Хейфец, М. Л.; Винтов, Д. А.; Эм, В. Т.; Карпов, И. В. При имеющейся необходимости для калибровки приборов, предназначенных для оценки напряженно-деформированного состояния металлических конструкций, в странах СНГ и за рубежом отсутствует эталон механического напряжения. На уровне атомарно-кристаллической решетки измерения ее деформации можно проводить только по результатам дифракции излучения. Наиболее точные измерения деформации возможны при использовании дифракции нейтронов. In the CIS countries and abroad, there is no standard of mechanical stress, which is necessary for calibrating instruments designed to assess the stress-strain state of metal structures. At the level of the atomic-crystal lattice, its deformationcan be measured only from the results of radiation diffraction. The most accurate strain measurements are possible using neutron diffraction. Sat, 01 Jan 2022 00:00:00 GMT http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/22412 2022-01-01T00:00:00Z http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/22411 Вихретоковая толщинометрия диэлектрических покрытий на деформированной стали 12Х18Н10Т Чернышев, А. В.; Шарандо, В. И.; Кременькова, Н. В.; Пиунов, В. Д. Выполнены исследования по толщинометрии диэлектрических покрытий на пластически деформированной аустенитной стали 12Х18Н10Т с помощью вихретокового метода. Приведены зависимости амплитуды вносимой ЭДС накладного преобразователя на частоте 2 кГц от толщины покрытия в диапазоне 0…2500 мкм при степенях деформации основания 0 %...50 %, которые могут выбираться в качестве градуировочных на основе измерений сигнала на непокрытом основании. Показано, что может быть построена единая градуировочная кривая для любых степеней деформации основания и предложена методика её использования. Thickness measurements of dielectric coatings on plastically deformed austenitic steel 12Cr18Ni10Ti were studied using the eddy current method. The dependences of the amplitude of the introduced EMF of the superimposed transducer at the frequency of 2 kHz on the coating thickness in the range of 0…2500 μm with degrees of deformation of the steel 0 %…50 %, which can be selected as calibration ones based on signal measurements on an uncoated basis, are given. It is shown that a single calibration curve can be constructed for any degree of deformation of the basis and the method for its use is proposed. Sat, 01 Jan 2022 00:00:00 GMT http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/22411 2022-01-01T00:00:00Z http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/22410 Рефлектометрические методы диагностики тонкопленочных структур Хомченко, А. В.; Примак, И. У. Рассмотрены особенности и пределы применимости методов измерения параметров тонкопленочных структур, основанных на регистрации угловой зависимости коэффициента отражения поляризованного светового пучка в схеме призменного возбуждения волноводных, вытекающих мод или его отражения от поверхности исследуемой структуры. The waveguide and reflectometry techniques for measuring of the absorption coefficient, refractive index and thickness of dielectric and metal thin-film structures are discussed. Sat, 01 Jan 2022 00:00:00 GMT http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/22410 2022-01-01T00:00:00Z