Автокoлебания интенсивности при резонансном отражении света инвертированным тонким слоем

Abstract

На основе численного моделирования и качественного анализа устойчивости равновесных состояний кинетической модели, образованной оптическими уравнениями Максвелла-Блоха, предсказывается возможность амплитудной автомодуляции резонансного излучения при отражении планарным приповерхностным слоем инвертированной среды с относительно высокой плотностью активных центров. В качестве модельных параметров использованы материальные характеристики полупроводниковых квантоворазмерных структур в спектральной области экситонного резонанса. Based on numerical modeling and qualitative analysis of the stability of equilibrium states of the kinetic model formed by the optical Maxwell-Bloch equations, the possibility of amplitude self-modulation of lasing radiation is predicted under the condition of resonant reflection by a planar subsurface layer of the inverted medium with a relatively high density of active centers. The material characteristics of semiconductor quantumsize structures in the spectral region of exciton resonance are used as model parameters.