Определение параметров тонких пленок в схеме призменного возбуждения мод

Показать сокращенную информацию

dc.contributor.author Хомченко, А. В.
dc.contributor.author Сотский, А. Б.
dc.contributor.author Романенко, А. А.
dc.contributor.author Глазунов, Е. В.
dc.contributor.author Костюченко, Д. Н.
dc.date.accessioned 2019-02-01T11:09:41Z
dc.date.available 2019-02-01T11:09:41Z
dc.date.issued 2002
dc.identifier.citation Определение оптических параметров тонких пленок в схеме призменного возбуждения мод / А. В. Хомченко [и др.] // Письма в ЖТФ. -2002.- Т.28, вып.11. - С. 51-57. ru_RU
dc.identifier.uri http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/8544
dc.description.abstract Предложен метод измерения коэффициента поглощения, показателя преломления и толщины тонких пленок, основанный на регистрации угловой зависимости коэффициента отражения светового пучка в схеме призменного возбуждения волноводных либо вытекающих мод. Обсуждаются особенности определения параметров SiOx-пленок на кремниевой и стеклянной подложках. ru_RU
dc.language.iso ru ru_RU
dc.publisher ФГБ УН Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе ru_RU
dc.subject измерение коэффициента поглощения ru_RU
dc.subject измерение коэффициента показателя преломления ru_RU
dc.subject тонкие пленки ru_RU
dc.subject коэффициент показателя толщины ru_RU
dc.subject Публикации кафедры "Физика"
dc.subject Публикации кафедры "Высшая математика"
dc.title Определение параметров тонких пленок в схеме призменного возбуждения мод ru_RU
dc.type Article ru_RU


Файлы в этом документе

Thumbnail
Имя: 5.pdf
Размер: 191.5Kb
Формат: PDF
Описание: Статья журнала
Открыть

Данный элемент включен в следующие коллекции

Показать сокращенную информацию