Шарандо, В. И.; Чернышев, А. В.; Булатов, О. В.; Sharando, V. I.; Chernyshev, A. V.; Bulatov, O. V.
(Белорусско-Российский университет, 2017)
Обоснована возможность применения серийных приборов МТЦ-2М-2 и МТЦ-3-5 для измерения толщины никелевых покрытий на неферромагнитных основаниях в диапазоне (0 – 300) мкм, в три раза превышающем паспортный диапазон этих ...