Browsing by Author "Chernyshev, A. V."

Browsing by Author "Chernyshev, A. V."

Sort by: Order: Results:

  • Чернышев, А. В.; Шарандо, В. И.; Загорский, И. Е.; Chernyshev, A. V.; Sharando, V. I.; Zagorsky, I. E. (Белорусско-Российский университет, 2017)
    В докладе сообщается о разработанном в ИПФ НАН Беларуси вихретоковом многочастотном толщиномере, у которого в процессе измерения толщины проводящего покрытия на проводящем основании частота тока возбуждения накладного ...
  • Чернышев, А. В.; Загорский, И. Е.; Шарандо, В. И.; Chernyshev, A. V.; Zagorskiy, I. E.; Sharando, V. I. (Белорусско-Российский университет, 2020)
    Рассмотрен вопрос контроля толщины хромового покрытия вихретоковым методом. Приведены результаты экспериментальных измерений толщины хромового покрытия на образцах с различной удельной электропроводностью. Показано, что ...
  • Шарандо, В. И.; Чернышёв, А. В.; Кременькова, Н. В.; Sharando, V. I.; Chernyshev, A. V.; Kremenkova, N. V. (Белорусско-Российский университет, 2020)
    Обоснована возможность применения серийных приборов МТЦ-3-1 и МТЦ-3-2 для измерения толщины никелевых покрытий на неферромагнитных основаниях с учётом условий их нанесения и термической обработки. Предложена методика ...
  • Шарандо, В. И.; Чернышев, А. В.; Булатов, О. В.; Sharando, V. I.; Chernyshev, A. V.; Bulatov, O. V. (Белорусско-Российский университет, 2017)
    Обоснована возможность применения серийных приборов МТЦ-2М-2 и МТЦ-3-5 для измерения толщины никелевых покрытий на неферромагнитных основаниях в диапазоне (0 – 300) мкм, в три раза превышающем паспортный диапазон этих ...

Search DSpace

Browse

My Account