Сотская, Л. И.; Чудаков, Е. А.; Сотский, А. Б.; Кривецкий, К. Н.; Стаськов, Н. И.
(Белорусско-Российский университет, 2022)
Разработан алгоритм решения обратной задачи спектрофотометрии слоев
интерференционных покрытий в ходе их напыления. Представлены результаты обработки
динамических спектров отражения для двухслойного покрытия SiO2 –ZrO2 ...