Просмотр 2020 (24-25 сентября) по автору "Chernyshev, A. V."

Просмотр 2020 (24-25 сентября) по автору "Chernyshev, A. V."

Отсортировать по:Порядку:Результатам:

  • Контроль толщины хромового покрытия на никелевом основании вихретоковым методом 
    Чернышев, А. В.; Загорский, И. Е.; Шарандо, В. И.; Chernyshev, A. V.; Zagorskiy, I. E.; Sharando, V. I. (Белорусско-Российский университет, 2020)
    Рассмотрен вопрос контроля толщины хромового покрытия вихретоковым методом. Приведены результаты экспериментальных измерений толщины хромового покрытия на образцах с различной удельной электропроводностью. Показано, что ...
  • Отстройка от влияния структуры при контроле никелевых покрытий толщиномерами типа МТЦ 
    Шарандо, В. И.; Чернышёв, А. В.; Кременькова, Н. В.; Sharando, V. I.; Chernyshev, A. V.; Kremenkova, N. V. (Белорусско-Российский университет, 2020)
    Обоснована возможность применения серийных приборов МТЦ-3-1 и МТЦ-3-2 для измерения толщины никелевых покрытий на неферромагнитных основаниях с учётом условий их нанесения и термической обработки. Предложена методика ...