dc.contributor.author |
Тявловский, А. К. |
|
dc.contributor.author |
Гусев, О. К. |
|
dc.contributor.author |
Пантелеев, К. В. |
|
dc.contributor.author |
Тявловский, К. Л. |
|
dc.contributor.author |
Свистун, А. И. |
|
dc.contributor.author |
Жарин, А. Л. |
|
dc.contributor.author |
Tyavlovsky, A. K. |
|
dc.contributor.author |
Gusev, О. K. |
|
dc.contributor.author |
Pantsialeyeu, К. U. |
|
dc.contributor.author |
Tyavlovsky, К. L. |
|
dc.contributor.author |
Svistun, А. I. |
|
dc.contributor.author |
Zharin, А. L. |
|
dc.date.accessioned |
2020-10-08T06:22:55Z |
|
dc.date.available |
2020-10-08T06:22:55Z |
|
dc.date.issued |
2020 |
|
dc.identifier.citation |
Картирование дефектов прецизионных поверхностей с использованием методов зондовой электрометрии / Тявловский, А. К. [и др.] // Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов : сборник статей 7-й Международной научно-технической конференции, Могилев, 24-25 сентября 2020 г. - Могилев: Белорусско-Российский университет, 2020. - С. 213-218 |
ru_RU |
dc.identifier.uri |
http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/13064 |
|
dc.description.abstract |
Рассмотрено использование методов зондовой электрометрии (в частности, сканирующего зонда Кельвина) для неразрушающего контроля дефектов обработки поверхности металлооптических изделий высшего класса чистоты. Показано, что применение таких методов обеспечивает выявление и картирование малоразмерных дефектов, не обнаруживаемых другими средствами неразрушающего контроля, в том числе при характерных размерах дефектов много меньше разрешающей способности картирования. В последнем случае определяется факт наличия и – оценочно – концентрация дефектов в некоторой области, соответствующей шагу сканирования. To solve the problem of non-destructive testing of highest cleanliness class surfaces of metallic optical items the probe electrometry methods, in particular scanning Kelvin probe technique, are considered. Such methods provide the detection and mapping of smallsized defects inaccessible to other non-destructive testing techniques, including those with characteristic sizes much less than the mapping resolution. In the latter case the available information include defect presence and estimated defect concentration in some area corresponding to the scan step. |
ru_RU |
dc.language.iso |
ru |
ru_RU |
dc.publisher |
Белорусско-Российский университет |
ru_RU |
dc.subject |
поверхность |
ru_RU |
dc.subject |
класс чистоты |
ru_RU |
dc.subject |
неразрушающий контроль |
ru_RU |
dc.subject |
алмазное лезвийное точение |
ru_RU |
dc.subject |
зондовая электрометрия |
ru_RU |
dc.subject |
surface |
ru_RU |
dc.subject |
cleanliness class |
ru_RU |
dc.subject |
non-destructive testing |
ru_RU |
dc.subject |
diamond blade turning |
ru_RU |
dc.subject |
probe electrometry |
ru_RU |
dc.title |
Картирование дефектов прецизионных поверхностей с использованием методов зондовой электрометрии |
ru_RU |
dc.title.alternative |
Mapping defects of precision surfaces using probe electrometry methods |
ru_RU |
dc.type |
Thesis |
ru_RU |
dc.identifier.udc |
621.7.08 |
|