Отстройка от влияния структуры при контроле никелевых покрытий толщиномерами типа МТЦ

Abstract

Обоснована возможность применения серийных приборов МТЦ-3-1 и МТЦ-3-2 для измерения толщины никелевых покрытий на неферромагнитных основаниях с учётом условий их нанесения и термической обработки. Предложена методика устранения погрешностей контроля, связанных с различиями в структуре никеля, а также оценки уровня механических напряжений в контролируемых покрытиях. The possibility of using serial devices MTC-3-1 and MTC-3-2 for measuring the thickness of nickel coatings on non-ferromagnetic substrates is substantiated, taking into account the conditions of their application and heat treatment. The proposed method of eliminating errors in control, arising from differences in the structure of nickel, as well as for evaluating the level of mechanical stress in controlled coating.