Количественная оценка индикаторных рисунков дефектов при визуализации их полей на магнитной пленке в приложенном поле

Шилов, А. В.; Новиков, В. А.; Кушнер, А. В.

DSpace Home
→
Периодические издания
→
Вестник Белорусско-Российского университета
→
2011
→
№ 1
→
View Item

dc.contributor.author	Шилов, А. В.
dc.contributor.author	Новиков, В. А.
dc.contributor.author	Кушнер, А. В.
dc.date.accessioned	2016-07-08T11:15:46Z
dc.date.available	2016-07-08T11:15:46Z
dc.date.issued	2011
dc.identifier.citation	Шилов, А. В. Количественная оценка индикаторных рисунков дефектов при визуализации их полей на магнитной пленке в приложенном поле / А. В. Шилов, В. А. Новиков, А. В. Кушнер // Вестник Белорусско-Российского университета. - 2011. - N 1.- С. 160-168	ru_RU
dc.identifier.uri	http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/1673
dc.description.abstract	Рассмотрены вопросы количественной оценки индикаторных рисунков дефектов различного типа и вида на визуализирующей магнитные поля пленке при магнитном контроле ферромагнитных объектов в приложенном поле. Предложено в качестве информационного параметра использовать ширину сигнала, обусловленного дефектом.	ru_RU
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.publisher	Белорусско-Российский университет	ru_RU
dc.subject	сигналы	ru_RU
dc.subject	магнитные пленки	ru_RU
dc.subject	количественная оценка	ru_RU
dc.subject	индикаторные рисунки	ru_RU
dc.subject	дефекты	ru_RU
dc.subject	дефектоскопия	ru_RU
dc.subject	Публикации кафедры "Физические методы контроля"
dc.subject	Публикации кафедры "Автоматизированные системы управления"
dc.title	Количественная оценка индикаторных рисунков дефектов при визуализации их полей на магнитной пленке в приложенном поле	ru_RU
dc.type	Article	ru_RU