dc.contributor.author |
Шилов, А. В. |
|
dc.contributor.author |
Новиков, В. А. |
|
dc.contributor.author |
Кушнер, А. В. |
|
dc.date.accessioned |
2016-07-12T13:37:00Z |
|
dc.date.available |
2016-07-12T13:37:00Z |
|
dc.date.issued |
2010 |
|
dc.identifier.citation |
Шилов, А. В. Количественная оценка индикаторных рисунков дефектов при визуализации их полей на магнитной пленке / А. В. Шилов, В. А. Новиков, А. В. Кушнер // Вестник Белорусско-Российского университета. - 2010. - № 2. - С. 152-160 |
ru_RU |
dc.identifier.uri |
http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/1787 |
|
dc.description.abstract |
Установлена зависимость численных значений интенсивности составляющих цвета (RGB) изображения пленки, визуализирующей магнитное поле, от ее предварительной подготовки и напряженности поля. Рассмотрены вопросы количественной оценки индикаторных рисунков дефектов различного типа и вида при визуализации их полей на магнитной пленке. |
ru_RU |
dc.language.iso |
ru |
ru_RU |
dc.publisher |
Белорусско-Российский университет |
ru_RU |
dc.subject |
индикаторные рисунки |
ru_RU |
dc.subject |
магнитные пленки |
ru_RU |
dc.subject |
рисунки дефектов |
ru_RU |
dc.subject |
дефекты |
ru_RU |
dc.subject |
магнитографический контроль |
ru_RU |
dc.subject |
несплошности |
ru_RU |
dc.subject |
дефекты сплошности |
ru_RU |
dc.subject |
визуализация дефектов |
ru_RU |
dc.subject |
визуализация полей |
ru_RU |
dc.subject |
визуализация полей дефектов |
ru_RU |
dc.subject |
Публикации кафедры "Физические методы контроля" |
|
dc.subject |
Публикации кафедры "Автоматизированные системы управления" |
|
dc.title |
Количественная оценка индикаторных рисунков дефектов при визуализации их полей на магнитной пленке |
ru_RU |
dc.type |
Article |
ru_RU |