Показать сокращенную информацию
dc.contributor.author | Шилов, А. В. | |
dc.contributor.author | Новиков, В. А. | |
dc.contributor.author | Кушнер, А. В. | |
dc.date.accessioned | 2016-07-12T13:37:00Z | |
dc.date.available | 2016-07-12T13:37:00Z | |
dc.date.issued | 2010 | |
dc.identifier.citation | Шилов, А. В. Количественная оценка индикаторных рисунков дефектов при визуализации их полей на магнитной пленке / А. В. Шилов, В. А. Новиков, А. В. Кушнер // Вестник Белорусско-Российского университета. - 2010. - № 2. - С. 152-160 | ru_RU |
dc.identifier.uri | http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/1787 | |
dc.description.abstract | Установлена зависимость численных значений интенсивности составляющих цвета (RGB) изображения пленки, визуализирующей магнитное поле, от ее предварительной подготовки и напряженности поля. Рассмотрены вопросы количественной оценки индикаторных рисунков дефектов различного типа и вида при визуализации их полей на магнитной пленке. | ru_RU |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | Белорусско-Российский университет | ru_RU |
dc.subject | индикаторные рисунки | ru_RU |
dc.subject | магнитные пленки | ru_RU |
dc.subject | рисунки дефектов | ru_RU |
dc.subject | дефекты | ru_RU |
dc.subject | магнитографический контроль | ru_RU |
dc.subject | несплошности | ru_RU |
dc.subject | дефекты сплошности | ru_RU |
dc.subject | визуализация дефектов | ru_RU |
dc.subject | визуализация полей | ru_RU |
dc.subject | визуализация полей дефектов | ru_RU |
dc.subject | Публикации кафедры "Физические методы контроля" | |
dc.subject | Публикации кафедры "Автоматизированные системы управления" | |
dc.title | Количественная оценка индикаторных рисунков дефектов при визуализации их полей на магнитной пленке | ru_RU |
dc.type | Article | ru_RU |