Количественная оценка индикаторных рисунков дефектов при визуализации их полей на магнитной пленке

Шилов, А. В.; Новиков, В. А.; Кушнер, А. В.

DSpace Home
→
Периодические издания
→
Вестник Белорусско-Российского университета
→
2010
→
№ 2
→
View Item

dc.contributor.author	Шилов, А. В.
dc.contributor.author	Новиков, В. А.
dc.contributor.author	Кушнер, А. В.
dc.date.accessioned	2016-07-12T13:37:00Z
dc.date.available	2016-07-12T13:37:00Z
dc.date.issued	2010
dc.identifier.citation	Шилов, А. В. Количественная оценка индикаторных рисунков дефектов при визуализации их полей на магнитной пленке / А. В. Шилов, В. А. Новиков, А. В. Кушнер // Вестник Белорусско-Российского университета. - 2010. - № 2. - С. 152-160	ru_RU
dc.identifier.uri	http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/1787
dc.description.abstract	Установлена зависимость численных значений интенсивности составляющих цвета (RGB) изображения пленки, визуализирующей магнитное поле, от ее предварительной подготовки и напряженности поля. Рассмотрены вопросы количественной оценки индикаторных рисунков дефектов различного типа и вида при визуализации их полей на магнитной пленке.	ru_RU
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.publisher	Белорусско-Российский университет	ru_RU
dc.subject	индикаторные рисунки	ru_RU
dc.subject	магнитные пленки	ru_RU
dc.subject	рисунки дефектов	ru_RU
dc.subject	дефекты	ru_RU
dc.subject	магнитографический контроль	ru_RU
dc.subject	несплошности	ru_RU
dc.subject	дефекты сплошности	ru_RU
dc.subject	визуализация дефектов	ru_RU
dc.subject	визуализация полей	ru_RU
dc.subject	визуализация полей дефектов	ru_RU
dc.subject	Публикации кафедры "Физические методы контроля"
dc.subject	Публикации кафедры "Автоматизированные системы управления"
dc.title	Количественная оценка индикаторных рисунков дефектов при визуализации их полей на магнитной пленке	ru_RU
dc.type	Article	ru_RU