dc.contributor.author |
Новиков, В. А. |
|
dc.contributor.author |
Шилов, А. В. |
|
dc.date.accessioned |
2016-07-20T08:04:46Z |
|
dc.date.available |
2016-07-20T08:04:46Z |
|
dc.date.issued |
2013 |
|
dc.identifier.citation |
Новиков, В. А. Исследование коэффициента отражения пленки, визуализирующей магнитные поля в области дефекта / В. А. Новиков, А. В. Шилов // Вестник Белорусско-Российского университета. - 2013. - № 1. - С. 88-98 |
ru_RU |
dc.identifier.uri |
http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/2009 |
|
dc.description.abstract |
Установлены экспериментальные зависимости и определен характер изменения коэффициента отражения света в зоне индикаторных рисунков дефектов на визуализирующей магнитные поля пленке при магнитном контроле ферромагнитных объектов. Дефектоскопию образцов производили в приложенном поле, направленном параллельно контролируемой поверхности. Внешнее световое излучение было направлено перпендикулярно поверхности объекта и уложенной на нее пленки, визуализирующей магнитные поля. Образцы для исследований имели толщину 25 мм и содержали искусственные несплошности в видепрофрезерованных канавок и цилиндрических отверстий, расположенных на различной глубине. |
ru_RU |
dc.language.iso |
ru |
ru_RU |
dc.publisher |
Белорусско-Российский университет |
ru_RU |
dc.subject |
магнитный контроль |
ru_RU |
dc.subject |
коэффициент отражения света |
ru_RU |
dc.subject |
дефект сплошности |
ru_RU |
dc.subject |
визуализация магнитного поля |
ru_RU |
dc.subject |
Публикации кафедры "Физические методы контроля" |
|
dc.subject |
Публикации кафедры "Автоматизированные системы управления" |
|
dc.title |
Исследование коэффициента отражения пленки, визуализирующей магнитные поля в области дефекта |
ru_RU |
dc.type |
Article |
ru_RU |