Показать сокращенную информацию
dc.contributor.author | Новиков, В. А. | |
dc.contributor.author | Шилов, А. В. | |
dc.date.accessioned | 2016-07-20T08:04:46Z | |
dc.date.available | 2016-07-20T08:04:46Z | |
dc.date.issued | 2013 | |
dc.identifier.citation | Новиков, В. А. Исследование коэффициента отражения пленки, визуализирующей магнитные поля в области дефекта / В. А. Новиков, А. В. Шилов // Вестник Белорусско-Российского университета. - 2013. - № 1. - С. 88-98 | ru_RU |
dc.identifier.uri | http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/2009 | |
dc.description.abstract | Установлены экспериментальные зависимости и определен характер изменения коэффициента отражения света в зоне индикаторных рисунков дефектов на визуализирующей магнитные поля пленке при магнитном контроле ферромагнитных объектов. Дефектоскопию образцов производили в приложенном поле, направленном параллельно контролируемой поверхности. Внешнее световое излучение было направлено перпендикулярно поверхности объекта и уложенной на нее пленки, визуализирующей магнитные поля. Образцы для исследований имели толщину 25 мм и содержали искусственные несплошности в видепрофрезерованных канавок и цилиндрических отверстий, расположенных на различной глубине. | ru_RU |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | Белорусско-Российский университет | ru_RU |
dc.subject | магнитный контроль | ru_RU |
dc.subject | коэффициент отражения света | ru_RU |
dc.subject | дефект сплошности | ru_RU |
dc.subject | визуализация магнитного поля | ru_RU |
dc.subject | Публикации кафедры "Физические методы контроля" | |
dc.subject | Публикации кафедры "Автоматизированные системы управления" | |
dc.title | Исследование коэффициента отражения пленки, визуализирующей магнитные поля в области дефекта | ru_RU |
dc.type | Article | ru_RU |