Основные механизмы повреждения микроконтроллеров вследствие влияния электростатических разрядов

Брылева, О. А.; Пискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.

Главная
→
Периодические издания
→
Вестник Белорусско-Российского университета
→
2013
→
№ 2
→
Просмотр элемента

dc.contributor.author	Брылева, О. А.
dc.contributor.author	Пискун, Г. А.
dc.contributor.author	Алексеев, В. Ф.
dc.date.accessioned	2016-07-21T07:39:39Z
dc.date.available	2016-07-21T07:39:39Z
dc.date.issued	2013
dc.identifier.citation	Брылева, О. А. Основные механизмы повреждения микроконтроллеров вследствие влияния электростатических разрядов / О. А. Брылева, Г. А. Пискун, В. Ф. Алексеев // Вестник Белорусско-Российского университета. - 2013. - № 2. - С. 130-137	ru_RU
dc.identifier.uri	http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/2032
dc.description.abstract	Представлена классификация основных механизмов повреждения современных типов микроконтроллеров вследствие воздействия разрядов статического электричества. Впервые проведена систематизация электростатических разрядов по типу воздействия и механизму влияния на оборудование. Приведена градация разрядов по степени повреждения и области выявления разрушения.	ru_RU
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.publisher	Белорусско-Российский университет	ru_RU
dc.subject	электростатические разряды	ru_RU
dc.subject	систематизация	ru_RU
dc.subject	пробой	ru_RU
dc.subject	параметрические отказы	ru_RU
dc.subject	микроконтроллеры	ru_RU
dc.subject	катастрофические отказы	ru_RU
dc.title	Основные механизмы повреждения микроконтроллеров вследствие влияния электростатических разрядов	ru_RU
dc.type	Article	ru_RU