Методы технической диагностики микроконтроллеров при воздействии электростатических разрядов

Пискун, Г. А.; Алексеев, В. Ф.; Брылева, О. А.

DSpace Home
→
Периодические издания
→
Вестник Белорусско-Российского университета
→
2013
→
№ 2
→
View Item

dc.contributor.author	Пискун, Г. А.
dc.contributor.author	Алексеев, В. Ф.
dc.contributor.author	Брылева, О. А.
dc.date.accessioned	2016-07-21T09:23:49Z
dc.date.available	2016-07-21T09:23:49Z
dc.date.issued	2013
dc.identifier.citation	Пискун, Г. А. Методы технической диагностики микроконтроллеров при воздействии электростатических разрядов / Г. А. Пискун, В. Ф. Алексеев, О. А. Брылева // Вестник Белорусско-Российского университета. - 2013. - № 2. - С. 156-163	ru_RU
dc.identifier.uri	http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/2054
dc.description.abstract	Проведен анализ методов контроля работоспособности в условиях воздействия разрядов статического электричества. Рассмотрены три метода параметрического тестирования, базирующихся на особенностях формы и длительности действия электростатических разрядов. Приведены обязательные параметры электронных компонентов, входящих в состав установок по имитации разрядов. Представлен наиболее часто используемый способ функционального тестирования микроконтроллеров, основанный на считывании и анализе инсталлированного массива данных из памяти микросхемы.	ru_RU
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.publisher	Белорусско-Российский университет	ru_RU
dc.subject	электростатические разряды	ru_RU
dc.subject	функциональное тестирование	ru_RU
dc.subject	параметрическое тестирование	ru_RU
dc.subject	микроконтроллеры	ru_RU
dc.subject	массивы данных	ru_RU
dc.subject	диагностика	ru_RU
dc.title	Методы технической диагностики микроконтроллеров при воздействии электростатических разрядов	ru_RU
dc.type	Article	ru_RU