Показать сокращенную информацию
dc.contributor.author | Пискун, Г. А. | |
dc.contributor.author | Алексеев, В. Ф. | |
dc.contributor.author | Брылева, О. А. | |
dc.date.accessioned | 2016-07-21T09:23:49Z | |
dc.date.available | 2016-07-21T09:23:49Z | |
dc.date.issued | 2013 | |
dc.identifier.citation | Пискун, Г. А. Методы технической диагностики микроконтроллеров при воздействии электростатических разрядов / Г. А. Пискун, В. Ф. Алексеев, О. А. Брылева // Вестник Белорусско-Российского университета. - 2013. - № 2. - С. 156-163 | ru_RU |
dc.identifier.uri | http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/2054 | |
dc.description.abstract | Проведен анализ методов контроля работоспособности в условиях воздействия разрядов статического электричества. Рассмотрены три метода параметрического тестирования, базирующихся на особенностях формы и длительности действия электростатических разрядов. Приведены обязательные параметры электронных компонентов, входящих в состав установок по имитации разрядов. Представлен наиболее часто используемый способ функционального тестирования микроконтроллеров, основанный на считывании и анализе инсталлированного массива данных из памяти микросхемы. | ru_RU |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | Белорусско-Российский университет | ru_RU |
dc.subject | электростатические разряды | ru_RU |
dc.subject | функциональное тестирование | ru_RU |
dc.subject | параметрическое тестирование | ru_RU |
dc.subject | микроконтроллеры | ru_RU |
dc.subject | массивы данных | ru_RU |
dc.subject | диагностика | ru_RU |
dc.title | Методы технической диагностики микроконтроллеров при воздействии электростатических разрядов | ru_RU |
dc.type | Article | ru_RU |