dc.contributor.author |
Пискун, Г. А. |
|
dc.contributor.author |
Алексеев, В. Ф. |
|
dc.contributor.author |
Брылева, О. А. |
|
dc.date.accessioned |
2016-07-21T09:23:49Z |
|
dc.date.available |
2016-07-21T09:23:49Z |
|
dc.date.issued |
2013 |
|
dc.identifier.citation |
Пискун, Г. А. Методы технической диагностики микроконтроллеров при воздействии электростатических разрядов / Г. А. Пискун, В. Ф. Алексеев, О. А. Брылева // Вестник Белорусско-Российского университета. - 2013. - № 2. - С. 156-163 |
ru_RU |
dc.identifier.uri |
http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/2054 |
|
dc.description.abstract |
Проведен анализ методов контроля работоспособности в условиях воздействия разрядов статического электричества. Рассмотрены три метода параметрического тестирования, базирующихся на особенностях формы и длительности действия электростатических разрядов. Приведены обязательные параметры электронных компонентов, входящих в состав установок по имитации разрядов. Представлен наиболее часто используемый способ функционального тестирования микроконтроллеров, основанный на считывании и анализе инсталлированного массива данных из памяти микросхемы. |
ru_RU |
dc.language.iso |
ru |
ru_RU |
dc.publisher |
Белорусско-Российский университет |
ru_RU |
dc.subject |
электростатические разряды |
ru_RU |
dc.subject |
функциональное тестирование |
ru_RU |
dc.subject |
параметрическое тестирование |
ru_RU |
dc.subject |
микроконтроллеры |
ru_RU |
dc.subject |
массивы данных |
ru_RU |
dc.subject |
диагностика |
ru_RU |
dc.title |
Методы технической диагностики микроконтроллеров при воздействии электростатических разрядов |
ru_RU |
dc.type |
Article |
ru_RU |