Искать
Войти
русский
English
Главная
→
Материалы конференций и семинаров
→
Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов
→
2022 (29-30 сентября)
→
Искать
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Искать
Фильтры
Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.
Текущие фильтры:
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Новые фильтры:
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Просмотр 2 из 2 всего результатов для коллекции: 2022 (29-30 сентября).
(0.078 секунд(а))
Отображаемые элементы 1-2 из 2
1
Параметры сортировки:
Релевантность
Название по возр.
Название по убыв.
Дата издания по возр.
Дата издания по убыв.
Результатов на стр.:
5
10
20
40
60
80
100
Основы теории базирования и закрепление предметов с учетом новых технологий
Базров, Б. М.
;
Родионова, Н. А.
;
Хейфец, М. Л.
;
Соломахо, В. Л.
;
Гуревич, В. Л.
(
Белорусско-Российский университет
,
2022
)
Наноиндентирование и определение дифракцией нейтронов деформированного состояния материала
Чижик, С. А.
;
Хейфец, М. Л.
;
Винтов, Д. А.
;
Эм, В. Т.
;
Карпов, И. В.
(
Белорусско-Российский университет
,
2022
)
Отображаемые элементы 1-2 из 2
1
Параметры сортировки:
Релевантность
Название по возр.
Название по убыв.
Дата издания по возр.
Дата издания по убыв.
Результатов на стр.:
5
10
20
40
60
80
100
Просмотр
Весь архив
Разделы и коллекции
Дата публикации
Авторы
Названия
Тематика/Специальность
Эта коллекция
Дата публикации
Авторы
Названия
Тематика/Специальность
Моя учетная запись
Войти
Регистрация
Просмотр
Автору
Хейфец, М. Л. (2)
Базров, Б. М. (1)
Винтов, Д. А. (1)
Гуревич, В. Л. (1)
Карпов, И. В. (1)
Родионова, Н. А. (1)
Соломахо, В. Л. (1)
Чижик, С. А. (1)
Эм, В. Т. (1)
Теме
nanoindentation (1)
neutron diffraction (1)
strain state of a material (1)
technology for manufacturing the product (1)
theoretical mechanics (1)
theory of based (1)
theory of machines and mechanisms (1)
деформированное состояние материала (1)
дифракция нейтронов (1)
наноиндентирование (1)
... больше
Дате публикации
2022 (2)
Has File(s)
Yes (2)