Стаськов, Н. И.; Парашков, С. О.; Шилов, А. В.; Крекотень, Н. А.
(ГГУ им. Франциска Скорины, 2015)
На примере двухслойной структуры полупроводник – диэлектрик – полупроводник рассмотрена возможность аналитического определения оптических параметров n1(λ), 1k (λ) и толщины 1 d верхнего слоя по огибающим спектров отражения ...