Марукович, Е. И.; Марков, А. П.; Бондарев, О. Ю.; Патук, Е. М.; Сергеев, С. С.
(БНТУ, 2013)
Рассматриваются особенности сканирования дефектных зон поверхностей, ориентированных на оптическую визуализацию аномальных отклонений. The peculiarities of the defective zones surfaces scanning, focused on optical visualization ...