Ивашкевич, И. В.; Крекотень, Н. А.; Петлицкий, А. Н.; Примак, И. У.; Сотская, Л. И.; Сотский, А. Б.; Стаськов, Н. И.
(2009)
Предложена методика определения ориентации оптической оси подложки при помощи эллипсометра с бинарной модуляцией состояния поляризации света. Выполнены экспериментальные исследования сапфировой подложки на спектральном ...