Волноводная спектроскопия двухслойных структур

Показать сокращенную информацию

dc.contributor.author Сотский, А. Б.
dc.contributor.author Steingart, L. M.
dc.contributor.author Jackson, J. H.
dc.contributor.author Парашков, С. О.
dc.contributor.author Дзен, И. С.
dc.contributor.author Сотская, Л. И.
dc.date.accessioned 2023-07-06T12:05:55Z
dc.date.available 2023-07-06T12:05:55Z
dc.date.issued 2015
dc.identifier.citation Волноводная спектроскопия двухслойных структур / А. Б. Сотский [и др.] // Журнал технической физики. - 2015. - Т. 85. - № 8. - С. 116-123. ru_RU
dc.identifier.uri http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/34922
dc.description.abstract Предложен метод наименьших квадратов для восстановления оптических параметров двухслойных структур, в котором целевая функция строится с использованием экспериментальных и расчетных данных для отражательной способности призмы связи. Выполнены исследования структуры, состоящей из двух различных пленок оксинитрида кремния, нанесенных на кремниевую подложку. Оценено влияние рассеяния света на решение обратной задачи. ru_RU
dc.language.iso ru ru_RU
dc.subject Публикации кафедры "Высшая математика" ru_RU
dc.title Волноводная спектроскопия двухслойных структур ru_RU
dc.type Article ru_RU


Файлы в этом документе

Icon
Имя: 116-123.pdf
Размер: 164.1Kb
Формат: PDF
Описание: Статья
Открыть

Данный элемент включен в следующие коллекции

Показать сокращенную информацию