JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
| dc.contributor.author | Сотский, А. Б. | |
| dc.contributor.author | Steingart, L. M. | |
| dc.contributor.author | Jackson, J. H. | |
| dc.contributor.author | Парашков, С. О. | |
| dc.contributor.author | Дзен, И. С. | |
| dc.contributor.author | Сотская, Л. И. | |
| dc.date.accessioned | 2023-07-06T12:05:55Z | |
| dc.date.available | 2023-07-06T12:05:55Z | |
| dc.date.issued | 2015 | |
| dc.identifier.citation | Волноводная спектроскопия двухслойных структур / А. Б. Сотский [и др.] // Журнал технической физики. - 2015. - Т. 85. - № 8. - С. 116-123. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/34922 | |
| dc.description.abstract | Предложен метод наименьших квадратов для восстановления оптических параметров двухслойных структур, в котором целевая функция строится с использованием экспериментальных и расчетных данных для отражательной способности призмы связи. Выполнены исследования структуры, состоящей из двух различных пленок оксинитрида кремния, нанесенных на кремниевую подложку. Оценено влияние рассеяния света на решение обратной задачи. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.subject | Публикации кафедры "Высшая математика" | ru_RU |
| dc.title | Волноводная спектроскопия двухслойных структур | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
