К анализу обратной задачи эллипсометрии неоднородных диэлектрических слоев

Показать сокращенную информацию

dc.contributor.author Карпенко, В. А. ru
dc.contributor.author Лаптинский, В. Н. ru
dc.contributor.author Могилевич, В. Н. ru
dc.contributor.author Романенко, А. А. ru
dc.coverage.spatial Могилев ru
dc.date.accessioned 2023-07-18T12:55:04Z
dc.date.available 2023-07-18T12:55:04Z
dc.date.issued 2012
dc.identifier.citation Карпенко, В. А. К анализу обратной задачи эллипсометрии неоднородных диэлектрических слоев / В. А. Карпенко, В. Н. Лаптинский, В. Н. Могилевич, А. А. Романенко // Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов : материалы 4-й междунар. науч.-техн. конф. / М-во образования Респ. Беларусь, М-во образования и науки Рос. Федерации, Нац. акад. наук Респ. Беларусь, Ин-т прикладной физ. НАН Респ. Беларусь, Белорусская ассоциация нераз- руш. контр. и техн. диагн., Рос. общество по неразруш. контр. и техн. диагн., УП «Белгазпромдиагностика», Белорус.-Рос. ун-т ; редкол. : И. С. Сазонов (гл. ред.) [и др.]. - Могилев : Белорус.-Рос. ун-т, 2012. – С. 143-145. ru
dc.identifier.uri http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/35084
dc.language.iso ru ru
dc.publisher Белорусско-Российский университет ru
dc.title К анализу обратной задачи эллипсометрии неоднородных диэлектрических слоев ru
dc.type Thesis ru


Файлы в этом документе

Icon
Имя: 143-145.pdf
Размер: 230.9Kb
Формат: PDF
Открыть

Данный элемент включен в следующие коллекции

Показать сокращенную информацию