О выборе углового диапазона измерений при исследовании тонких пленок с помощью призмы связи

Показать сокращенную информацию

dc.contributor.author Сотский, А. Б.
dc.contributor.author Steingart, L. M.
dc.contributor.author Парашков, С. О.
dc.contributor.author Сотская, Л. И.
dc.date.accessioned 2023-11-30T12:28:23Z
dc.date.available 2023-11-30T12:28:23Z
dc.date.issued 2013
dc.identifier.citation О выборе углового диапазона измерений при исследовании тонких пленок с помощью призмы связи / А. Б. Сотский [и др.] // Квантовая электроника: Материалы IX Междунар. науч.-техн. конф., Минск, 18–21 нояб. 2013 г. – Минск, 2013. - С. 146-147. ru_RU
dc.identifier.uri http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/38977
dc.language.iso ru ru_RU
dc.subject Публикации кафедры "Высшая математика" ru_RU
dc.subject Публикации кафедры "Физика" ru_RU
dc.title О выборе углового диапазона измерений при исследовании тонких пленок с помощью призмы связи ru_RU
dc.type Article ru_RU


Файлы в этом документе

Icon
Имя: 146-147.pdf
Размер: 598.3Kb
Формат: PDF
Описание: Статья
Открыть

Данный элемент включен в следующие коллекции

Показать сокращенную информацию