О выборе углового диапазона измерений при исследовании тонких пленок с помощью призмы связи

dc.contributor.author	Сотский, А. Б.
dc.contributor.author	Steingart, L. M.
dc.contributor.author	Парашков, С. О.
dc.contributor.author	Сотская, Л. И.
dc.date.accessioned	2023-11-30T12:28:23Z
dc.date.available	2023-11-30T12:28:23Z
dc.date.issued	2013
dc.identifier.citation	О выборе углового диапазона измерений при исследовании тонких пленок с помощью призмы связи / А. Б. Сотский [и др.] // Квантовая электроника: Материалы IX Междунар. науч.-техн. конф., Минск, 18–21 нояб. 2013 г. – Минск, 2013. - С. 146-147.	ru_RU
dc.identifier.uri	http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/38977
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.subject	Публикации кафедры "Высшая математика"	ru_RU
dc.subject	Публикации кафедры "Физика"	ru_RU
dc.title	О выборе углового диапазона измерений при исследовании тонких пленок с помощью призмы связи	ru_RU
dc.type	Article	ru_RU

Files in this item

Name: 146-147.pdf

Size: 598.3Kb

Format: PDF

Description: Статья