Спектральная эллипсометрия слоя ZnO:Al на пластине К8

dc.contributor.author	Стаськов, Н. И.
dc.contributor.author	Ивашкевич, И. В.
dc.contributor.author	Шулицкий, Б. Г.
dc.date.accessioned	2017-05-29T12:45:34Z
dc.date.accessioned	2018-05-24T13:49:26Z
dc.date.available	2017-05-29T12:45:34Z
dc.date.available	2018-05-24T13:49:26Z
dc.date.issued	2017
dc.identifier.citation	Стаськов, Н. И. Спектральная эллипсометрия слоя ZnO:Al на пластине К8 / Н. И. Стаськов, И. В. Ивашкевич, Б. Г. Шулицкий // Материалы, оборудование и ресурсосберегающие технологии : материалы междунар. науч.-техн. конф., Могилев, 27-28 апреля 2017 г. / ред.: И. С. Сазонов [и др.]. - Могилев: Белорус.-Рос. ун-т, 2017. - С. 366-367	ru_RU
dc.identifier.uri	http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/4720
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.publisher	Белорусско-Российский университет	ru_RU
dc.subject	спектральная эллипсометрия	ru_RU
dc.subject	оксид цинка	ru_RU
dc.title	Спектральная эллипсометрия слоя ZnO:Al на пластине К8	ru_RU
dc.type	Thesis	ru_RU