Хомченко, В. В.; Хомченко, А. В.; Глазунов, Е. В.
(Белорусско-Российский университет, 2006)
Рассмотрены возможности методов волноводной спектроскопии для исследования свойств наноразмерных тонкопленочных структур. Данный подход основан на анализе фотоиндуцированных изменений в пространственном распределении ...