Искать
Войти
русский
English
Главная
→
Периодические издания
→
Вестник Белорусско-Российского университета
→
2006
→
№ 2
→
Искать
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Искать
Фильтры
Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.
Текущие фильтры:
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Новые фильтры:
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Просмотр 2 из 2 всего результатов для коллекции: № 2.
(0.0 секунд(а))
Отображаемые элементы 1-2 из 2
1
Параметры сортировки:
Релевантность
Название по возр.
Название по убыв.
Дата издания по возр.
Дата издания по убыв.
Результатов на стр.:
5
10
20
40
60
80
100
Измерение параметров тонких пленок методом волноводной спектроскопии
Романенко, А. А.
;
Хомченко, А. В.
;
Сотский, А. Б.
;
Глазунов, Е. В.
(
Белорусско-Российский университет
,
2006
)
Измерение параметров световых пучков методами волноводной спектроскопии
Шульга, А. В.
;
Хомченко, А. В.
;
Сотский, А. Б.
;
Сотская, Л. И.
(
Белорусско-Российский университет
,
2006
)
Отображаемые элементы 1-2 из 2
1
Параметры сортировки:
Релевантность
Название по возр.
Название по убыв.
Дата издания по возр.
Дата издания по убыв.
Результатов на стр.:
5
10
20
40
60
80
100
Просмотр
Весь архив
Разделы и коллекции
Дата публикации
Авторы
Названия
Тематика/Специальность
Эта коллекция
Дата публикации
Авторы
Названия
Тематика/Специальность
Моя учетная запись
Войти
Регистрация
Просмотр
Автору
Сотский, А. Б. (2)
Хомченко, А. В. (2)
Глазунов, Е. В. (1)
Романенко, А. А. (1)
Сотская, Л. И. (1)
Шульга, А. В. (1)
Теме
волноводная спектроскопия (2)
интегрально-оптические методы (2)
Публикации кафедры "Высшая математика" (2)
Публикации кафедры "Физика" (2)
световые пучки (2)
тонкопленочные структуры (2)
измерения параметров (1)
методы измерений (1)
оптические параметры (1)
пространственный спектр интенсивности (1)
... больше
Дате публикации
2006 (2)
Has File(s)
Yes (2)