Новиков, В. А.; Пантюшина, В. Г.; Novikov, V. A.; Pantyushina, V. G.
(Белорусско-Российский университет, 2026)
Описаны подготовка поверхности контролируемого объекта и настройка дефектоскопа перед проведением дефектоскопии объекта. Приведены положения универсальной методики магнитографического контроля, учитывающей как конструкти ...