Спектрофотометрия слоя оксида цинка, допированного алюминием, на пластине К8

Show simple item record

dc.contributor.author Стаськов, Н. И.
dc.contributor.author Филиппов, В. В.
dc.contributor.author Шулицкий, Б. Г.
dc.contributor.author Кашко, И. А.
dc.contributor.author Staskov, N. I.
dc.contributor.author Philippov, V. V.
dc.contributor.author Shulitsky, B. G.
dc.contributor.author Casco, I. A.
dc.date.accessioned 2017-10-09T13:34:49Z
dc.date.accessioned 2018-05-24T06:58:22Z
dc.date.available 2017-10-09T13:34:49Z
dc.date.available 2018-05-24T06:58:22Z
dc.date.issued 2017
dc.identifier.citation Спектрофотометрия слоя оксида цинка, допированного алюминием, на пластине К8 / Н. И. Стаськов [и др.] // Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов : сборник статей 6-й Международной научно-технической конференции, Могилев, 19-20 сентября 2017 г. / редкол.: И. С. Сазонов (гл. ред.) [и др.]. - Могилев: Белорусско-Российский университет, 2017. - С. 298-304 ru_RU
dc.identifier.uri http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/5033
dc.description.abstract Ширина запрещенной зоны слоя оксида цинка с двухпроцентным содержанием алюминия, определенная по спектрам пропускания и отражения, удовлетворительно коррелирует с соответствующей величиной из формулы Adachi-New Forouhi по данным метода спектральной эллипсометрии. The band gap of a zinc oxide layer with a 2% aluminum content, determined from the transmission and reflection spectra, correlates satisfactorily with the corresponding value of the Adachi-New Forouhi formula from the spectral ellipsometry method. ru_RU
dc.language.iso ru ru_RU
dc.publisher Белорусско-Российский университет ru_RU
dc.subject оксид цинка ru_RU
dc.subject алюминий ru_RU
dc.subject спектральная эллипсометрия ru_RU
dc.subject спектры пропускания ru_RU
dc.subject спектры отражения ru_RU
dc.subject формула Adachi-New Forouhi ru_RU
dc.subject спектрофотометрия ru_RU
dc.subject transmission spectra ru_RU
dc.subject reflection spectra ru_RU
dc.subject zinc oxide layer ru_RU
dc.subject aluminum ru_RU
dc.subject spectral ellipsometry ru_RU
dc.subject Adachi-New Forouhi formula ru_RU
dc.subject spectrophotometry ru_RU
dc.title Спектрофотометрия слоя оксида цинка, допированного алюминием, на пластине К8 ru_RU
dc.title.alternative Spectrophotometry of zinc oxide layer doped with aluminum on K8 plate ru_RU
dc.type Thesis ru_RU


Files in this item

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Search DSpace


Browse

My Account