Спектрофотометрия слоя оксида цинка, допированного алюминием, на пластине К8

Стаськов, Н. И.; Филиппов, В. В.; Шулицкий, Б. Г.; Кашко, И. А.; Staskov, N. I.; Philippov, V. V.; Shulitsky, B. G.; Casco, I. A.

Главная
→
Материалы конференций и семинаров
→
Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов
→
2017 (19-20 сентября)
→
Просмотр элемента

dc.contributor.author	Стаськов, Н. И.
dc.contributor.author	Филиппов, В. В.
dc.contributor.author	Шулицкий, Б. Г.
dc.contributor.author	Кашко, И. А.
dc.contributor.author	Staskov, N. I.
dc.contributor.author	Philippov, V. V.
dc.contributor.author	Shulitsky, B. G.
dc.contributor.author	Casco, I. A.
dc.date.accessioned	2017-10-09T13:34:49Z
dc.date.accessioned	2018-05-24T06:58:22Z
dc.date.available	2017-10-09T13:34:49Z
dc.date.available	2018-05-24T06:58:22Z
dc.date.issued	2017
dc.identifier.citation	Спектрофотометрия слоя оксида цинка, допированного алюминием, на пластине К8 / Н. И. Стаськов [и др.] // Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов : сборник статей 6-й Международной научно-технической конференции, Могилев, 19-20 сентября 2017 г. / редкол.: И. С. Сазонов (гл. ред.) [и др.]. - Могилев: Белорусско-Российский университет, 2017. - С. 298-304	ru_RU
dc.identifier.uri	http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/5033
dc.description.abstract	Ширина запрещенной зоны слоя оксида цинка с двухпроцентным содержанием алюминия, определенная по спектрам пропускания и отражения, удовлетворительно коррелирует с соответствующей величиной из формулы Adachi-New Forouhi по данным метода спектральной эллипсометрии. The band gap of a zinc oxide layer with a 2% aluminum content, determined from the transmission and reflection spectra, correlates satisfactorily with the corresponding value of the Adachi-New Forouhi formula from the spectral ellipsometry method.	ru_RU
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.publisher	Белорусско-Российский университет	ru_RU
dc.subject	оксид цинка	ru_RU
dc.subject	алюминий	ru_RU
dc.subject	спектральная эллипсометрия	ru_RU
dc.subject	спектры пропускания	ru_RU
dc.subject	спектры отражения	ru_RU
dc.subject	формула Adachi-New Forouhi	ru_RU
dc.subject	спектрофотометрия	ru_RU
dc.subject	transmission spectra	ru_RU
dc.subject	reflection spectra	ru_RU
dc.subject	zinc oxide layer	ru_RU
dc.subject	aluminum	ru_RU
dc.subject	spectral ellipsometry	ru_RU
dc.subject	Adachi-New Forouhi formula	ru_RU
dc.subject	spectrophotometry	ru_RU
dc.title	Спектрофотометрия слоя оксида цинка, допированного алюминием, на пластине К8	ru_RU
dc.title.alternative	Spectrophotometry of zinc oxide layer doped with aluminum on K8 plate	ru_RU
dc.type	Thesis	ru_RU