Оптические характеристики слоя оксида цинка, допированного алюминием

Стаськов, Н. И.; Ивашкевич, И. В.; Михеев, С. С.; Staskov, N. I.; Ivashkevich, I. V.; Mikheev, S. S.

Главная
→
Материалы конференций и семинаров
→
Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов
→
2017 (19-20 сентября)
→
Просмотр элемента

dc.contributor.author	Стаськов, Н. И.
dc.contributor.author	Ивашкевич, И. В.
dc.contributor.author	Михеев, С. С.
dc.contributor.author	Staskov, N. I.
dc.contributor.author	Ivashkevich, I. V.
dc.contributor.author	Mikheev, S. S.
dc.date.accessioned	2017-10-09T13:56:55Z
dc.date.accessioned	2018-05-24T06:58:33Z
dc.date.available	2017-10-09T13:56:55Z
dc.date.available	2018-05-24T06:58:33Z
dc.date.issued	2017
dc.identifier.citation	Стаськов, Н. И. Оптические характеристики слоя оксида цинка, допированного алюминием / Н. И. Стаськов, И. В. Ивашкевич, С. С. Михеев // Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов : сборник статей 6-й Международной научно-технической конференции, Могилев, 19-20 сентября 2017 г. / редкол.: И. С. Сазонов (гл. ред.) [и др.]. - Могилев: Белорусско-Российский университет, 2017. - С. 305-310	ru_RU
dc.identifier.uri	http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/5034
dc.description.abstract	Оптические свойства слабо поглощающей полупроводниковой пленки Zn0:Al на стеклянной подложке K8 определяются методами спектрофотометрии и спектральной эллипсометрии. Optical properties of the low absorbing semiconductor Zn0:Al film on the glass K8 substrate are determined by the methods of spectrophotometry and spectral ellipsometry.	ru_RU
dc.language.iso	ru	ru_RU
dc.publisher	Белорусско-Российский университет	ru_RU
dc.subject	оптические свойства	ru_RU
dc.subject	Zn0:Al	ru_RU
dc.subject	оксид цинка	ru_RU
dc.subject	алюминий	ru_RU
dc.subject	спектрофотометрия	ru_RU
dc.subject	спектральная эллипсометрия	ru_RU
dc.subject	показатели преломления	ru_RU
dc.subject	показатели поглощения	ru_RU
dc.subject	optical properties	ru_RU
dc.subject	spectrophotometry	ru_RU
dc.subject	spectral ellipsometry	ru_RU
dc.subject	zinc oxide layer	ru_RU
dc.subject	aluminum	ru_RU
dc.subject	refractive indexes	ru_RU
dc.subject	absorption indexes	ru_RU
dc.title	Оптические характеристики слоя оксида цинка, допированного алюминием	ru_RU
dc.title.alternative	Optical characteristics of zinc oxide layer doped with aluminum	ru_RU
dc.type	Thesis	ru_RU