Внутрирезонаторная лазерная спектроскопия волноводных структур

Abstract

Предложен метод внутрирезонаторной волноводной спектроскопии тонкоплёночных структур, основанный на регистрации и обработке углового спектра светового пучка, отражённого от призменного устройства связи в случае возбуждения волноводных мод в тонкоплёночной структуре внутрирезонаторным излучением лазера с низким коэффициентом усиления посредством призмы связи в форме параллелепипеда, в которой внутрирезонаторное излучение падает на входную (выходную) грань призмы под углом Брюстера и претерпевает двукратное внутреннее отражение в призме. Продемонстрировано, что возбуждение волноводных мод может осуществляться при слабой связи и высоком контрасте, что позволяет использовать предложенный метод для измерения оптических параметров планарных волноводов с низкими потерями. A new technique of intracavity waveguide spectroscopy for investigating planar waveguide was proposed. It’s based on recording and processing angular spectrum of a light beam reflected from a prism coupler in the case of exciting a guided mode in thin-film structure by the intracavity radiation of low-gain laser using a parallelepiped coupling prism in which the intracavity radiation enters the input faces of the prism at the Brewster angles and undergoes double internal reflection in the prism. It was demonstrated that the excitation of guided modes can be performed at the weak coupling. It was shown that the proposed technique can be used for measuring the optical parameters of low-loss planar waveguides.