dc.contributor.author |
Филиппов, И. Н. |
|
dc.contributor.author |
Кураченко, С. С. |
|
dc.contributor.author |
Filipau, I. N. |
|
dc.contributor.author |
Kurachenko, S. S. |
|
dc.date.accessioned |
2017-10-12T13:37:15Z |
|
dc.date.accessioned |
2018-05-24T06:58:43Z |
|
dc.date.available |
2017-10-12T13:37:15Z |
|
dc.date.available |
2018-05-24T06:58:43Z |
|
dc.date.issued |
2017 |
|
dc.identifier.citation |
Филиппов, И. Н. Методы обработки данных для сканирующей интерферометрии белого света / И. Н. Филиппов, С. С. Кураченко // Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов : сборник статей 6-й Международной научно-технической конференции, Могилев, 19-20 сентября 2017 г. / редкол.: И. С. Сазонов (гл. ред.) [и др.]. - Могилев: Белорусско-Российский университет, 2017. - С. 394-398 |
ru_RU |
dc.identifier.uri |
http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/5058 |
|
dc.description.abstract |
Описан общий принцип работы интерферометра белого света. Приводится обзор основных методов восстановления профиля поверхности по набору интерферограмм. Приводится их сравнительная характеристика. Производится моделирование набора интерференционных картин. Производится восстановление профиля поверхности по модельному набору интерференционных картин. Оцениваются погрешности рассмотренных методов, в зависимости от шумов различной природы. Described general principles of scanning white light interferometry. Common methods of profile estimation from white light interferogramms have been reviewed. Comparison of these methods has been performed. Sequence of interferogramms has been modeled. Surface profile has been restored from modeled interferogramms using every described method. Dependency of restoration error from different errors in raw data has been analized. |
ru_RU |
dc.language.iso |
ru |
ru_RU |
dc.publisher |
Белорусско-Российский университет |
ru_RU |
dc.subject |
интерферометрия |
ru_RU |
dc.subject |
интерферометрия белого света |
ru_RU |
dc.subject |
профиль поверхности |
ru_RU |
dc.subject |
измерение профиля поверхности |
ru_RU |
dc.subject |
интерферограммы |
ru_RU |
dc.subject |
интерферометры |
ru_RU |
dc.subject |
interferometry |
ru_RU |
dc.subject |
white light interferometry |
ru_RU |
dc.subject |
surface profile |
ru_RU |
dc.subject |
surface profile measurement |
ru_RU |
dc.subject |
interferogramms |
ru_RU |
dc.subject |
interferometers |
ru_RU |
dc.subject |
методы |
ru_RU |
dc.subject |
methods |
ru_RU |
dc.title |
Методы обработки данных для сканирующей интерферометрии белого света |
ru_RU |
dc.title.alternative |
Data processing methods in white light scanning interferometry |
ru_RU |
dc.type |
Thesis |
ru_RU |