Искать
Войти
русский
English
Главная
→
Периодические издания
→
Вестник Белорусско-Российского университета
→
2014
→
№ 1
→
Искать
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Искать
Фильтры
Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.
Текущие фильтры:
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Новые фильтры:
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Просмотр 2 из 2 всего результатов для коллекции: № 1.
(0.031 секунд(а))
Отображаемые элементы 1-2 из 2
1
Параметры сортировки:
Релевантность
Название по возр.
Название по убыв.
Дата издания по возр.
Дата издания по убыв.
Результатов на стр.:
5
10
20
40
60
80
100
Границы применения магнитного метода контроля с использованием визуализирующей поля пленки
Новиков, В. А.
;
Шилов, А. В.
(
Белорусско-Российский университет
,
2014
)
Анализ моделей дефектов в теоретических исследованиях магнитных полей рассеяния, возникающих при намагничивании ферромагнитных объектов
Кушнер, А. В.
;
Новиков, В. А.
(
Белорусско-Российский университет
,
2014
)
Отображаемые элементы 1-2 из 2
1
Параметры сортировки:
Релевантность
Название по возр.
Название по убыв.
Дата издания по возр.
Дата издания по убыв.
Результатов на стр.:
5
10
20
40
60
80
100
Просмотр
Весь архив
Разделы и коллекции
Дата публикации
Авторы
Названия
Тематика/Специальность
Эта коллекция
Дата публикации
Авторы
Названия
Тематика/Специальность
Моя учетная запись
Войти
Регистрация
Просмотр
Автору
Новиков, В. А. (2)
Кушнер, А. В. (1)
Шилов, А. В. (1)
Теме
дефекты сплошности (2)
магнитный контроль (2)
Публикации кафедры "Физические методы контроля" (2)
визуализация магнитных полей (1)
визуализирующие поля (1)
границы применения (1)
индикаторные рисунки (1)
модели дефектов (1)
неразрушаюший контроль (1)
поля рассеяния (1)
... больше
Дате публикации
2014 (2)
Has File(s)
Yes (2)