Тявловский, А. К.; Гусев, О. К.; Пантелеев, К. В.; Тявловский, К. Л.; Свистун, А. И.; Жарин, А. Л.; Tyavlovsky, A. K.; Gusev, О. K.; Pantsialeyeu, К. U.; Tyavlovsky, К. L.; Svistun, А. I.; Zharin, А. L.
(Белорусско-Российский университет, 2020)
Рассмотрено использование методов зондовой электрометрии (в частности, сканирующего зонда Кельвина) для неразрушающего контроля дефектов обработки поверхности металлооптических изделий высшего класса чистоты. Показано, что ...