Просмотр Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов по автору "Mikheev, S. S."

Просмотр Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов по автору "Mikheev, S. S."

Отсортировать по:Порядку:Результатам:

  • Оптические характеристики слоя оксида цинка, допированного алюминием 
    Стаськов, Н. И.; Ивашкевич, И. В.; Михеев, С. С.; Staskov, N. I.; Ivashkevich, I. V.; Mikheev, S. S. (Белорусско-Российский университет, 2017)
    Оптические свойства слабо поглощающей полупроводниковой пленки Zn0:Al на стеклянной подложке K8 определяются методами спектрофотометрии и спектральной эллипсометрии. Optical properties of the low absorbing semiconductor ...