Искать
Войти
русский
English
Главная
→
Материалы конференций и семинаров
→
Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов
→
Искать
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Искать
Фильтры
Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.
Текущие фильтры:
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Новые фильтры:
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Просмотр 2 из 2 всего результатов для сообщества: Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов.
(0.031 секунд(а))
Отображаемые элементы 1-2 из 2
1
Параметры сортировки:
Релевантность
Название по возр.
Название по убыв.
Дата издания по возр.
Дата издания по убыв.
Результатов на стр.:
5
10
20
40
60
80
100
Спектральная эллипсометрия перовскитных пленок
Ивашкевич, И. В.
;
Стаськов, Н. И.
;
Филиппов, В. В.
;
Шулицкий, Б. Г.
;
Кашко, И. А.
;
Ivashkevich, I. V.
;
Staskov, N. I.
;
Philippov, V. V.
;
Shulitsky, B. G.
;
Casco, I. A.
(
Белорусско-Российский университет
,
2017
)
Оптические характеристики слоя оксида цинка, допированного алюминием
Стаськов, Н. И.
;
Ивашкевич, И. В.
;
Михеев, С. С.
;
Staskov, N. I.
;
Ivashkevich, I. V.
;
Mikheev, S. S.
(
Белорусско-Российский университет
,
2017
)
Отображаемые элементы 1-2 из 2
1
Параметры сортировки:
Релевантность
Название по возр.
Название по убыв.
Дата издания по возр.
Дата издания по убыв.
Результатов на стр.:
5
10
20
40
60
80
100
Просмотр
Весь архив
Разделы и коллекции
Дата публикации
Авторы
Названия
Тематика/Специальность
Этот раздел
Дата публикации
Авторы
Названия
Тематика/Специальность
Моя учетная запись
Войти
Регистрация
Просмотр
Автору
Ivashkevich, I. V. (2)
Staskov, N. I. (2)
Ивашкевич, И. В. (2)
Стаськов, Н. И. (2)
Casco, I. A. (1)
Mikheev, S. S. (1)
Philippov, V. V. (1)
Shulitsky, B. G. (1)
Кашко, И. А. (1)
Михеев, С. С. (1)
... больше
Теме
spectral ellipsometry (2)
спектральная эллипсометрия (2)
absorption indexes (1)
aluminum (1)
electrodynamic models (1)
films (1)
optical properties (1)
perovskites (1)
refractive indexes (1)
spectrophotometry (1)
... больше
Дате публикации
2017 (2)
Has File(s)
Yes (2)