Шарандо, В. И.; Чернышёв, А. В.; Кременькова, Н. В.; Sharando, V. I.; Chernyshev, A. V.; Kremenkova, N. V.
(Белорусско-Российский университет, 2020)
Обоснована возможность применения серийных приборов МТЦ-3-1 и МТЦ-3-2 для измерения толщины никелевых покрытий на неферромагнитных основаниях с учётом условий их нанесения и термической обработки. Предложена методика ...