Искать
Войти
русский
English
Главная
→
Материалы конференций и семинаров
→
Искать
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Искать
Фильтры
Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.
Текущие фильтры:
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Новые фильтры:
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Просмотр 2 из 2 всего результатов для сообщества: Материалы конференций и семинаров.
(0.0 секунд(а))
Отображаемые элементы 1-2 из 2
1
Параметры сортировки:
Релевантность
Название по возр.
Название по убыв.
Дата издания по возр.
Дата издания по убыв.
Результатов на стр.:
5
10
20
40
60
80
100
Анализ остаточных напряжений в приповерхностном слое закаленного стекла
Хомченко, А. В.
;
Примак, И. У.
;
Войтенков, А. И.
;
Кульбенков, В. М.
;
Khomchenko, A. V.
;
Primak, I. U.
;
Voytenkov, A. I.
;
Kul`benkov, V. M.
(
Белорусско-Российский университет
,
2020
)
Рефлектометрические методы диагностики тонкопленочных структур
Хомченко, А. В.
;
Примак, И. У.
(
Белорусско-Российский университет
,
2022
)
Отображаемые элементы 1-2 из 2
1
Параметры сортировки:
Релевантность
Название по возр.
Название по убыв.
Дата издания по возр.
Дата издания по убыв.
Результатов на стр.:
5
10
20
40
60
80
100
Просмотр
Весь архив
Разделы и коллекции
Дата публикации
Авторы
Названия
Тематика/Специальность
Этот раздел
Дата публикации
Авторы
Названия
Тематика/Специальность
Моя учетная запись
Войти
Регистрация
Просмотр
Автору
Примак, И. У. (2)
Хомченко, А. В. (2)
Khomchenko, A. V. (1)
Kul`benkov, V. M. (1)
Primak, I. U. (1)
Voytenkov, A. I. (1)
Войтенков, А. И. (1)
Кульбенков, В. М. (1)
Теме
волноводная спектроскопия (2)
Публикации кафедры "Высшая математика" (2)
Публикации кафедры "Физика" (2)
measurement technique (1)
parameter testing of thin-film structure (1)
reflectometry (1)
residual mechanical stresses birefringence (1)
tempered glass (1)
waveguide spectrjscopy (1)
waveguide spectroscopy (1)
... больше
Дате публикации
2020 (1)
2022 (1)
Has File(s)
Yes (2)