Искать
Войти
русский
English
Главная
→
Материалы конференций и семинаров
→
Искать
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Искать
Фильтры
Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.
Текущие фильтры:
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Новые фильтры:
Название
Автор
Тема
Дата издания
Специальность
Has File(s)
Содержит
Равен
ID
Не содержит
Не равен
Не ID
Просмотр 2 из 2 всего результатов для сообщества: Материалы конференций и семинаров.
(0.0 секунд(а))
Отображаемые элементы 1-2 из 2
1
Параметры сортировки:
Релевантность
Название по возр.
Название по убыв.
Дата издания по возр.
Дата издания по убыв.
Результатов на стр.:
5
10
20
40
60
80
100
Сравнение визуализирующих магнитные поля пленок при дефектоскопии ферромагнитных объектов
Шилов, А. В.
;
Кушнер, А. В.
;
Новиков, В. А.
(
Белорусско-Российский университет
,
2020
)
Универсальный контрольный образец для магнитографической дефектоскопии
Кушнер, А. В.
;
Шилов, А. В.
;
Новиков, В. А.
(
Белорусско-Российский университет
,
2020
)
Отображаемые элементы 1-2 из 2
1
Параметры сортировки:
Релевантность
Название по возр.
Название по убыв.
Дата издания по возр.
Дата издания по убыв.
Результатов на стр.:
5
10
20
40
60
80
100
Просмотр
Весь архив
Разделы и коллекции
Дата публикации
Авторы
Названия
Тематика/Специальность
Этот раздел
Дата публикации
Авторы
Названия
Тематика/Специальность
Моя учетная запись
Войти
Регистрация
Просмотр
Автору
Кушнер, А. В. (2)
Новиков, В. А. (2)
Шилов, А. В. (2)
Теме
Публикации кафедры "Автоматизированные системы управления" (2)
Публикации кафедры "Физические методы контроля" (2)
Публикации кафедры "Программное обеспечение информационных технологий" (1)
... больше
Дате публикации
2020 (2)
Has File(s)
Yes (2)