dc.contributor.author |
Хомченко, А. В. |
|
dc.contributor.author |
Сотский, А. Б. |
|
dc.contributor.author |
Романенко, А. А. |
|
dc.contributor.author |
Глазунов, Е. В. |
|
dc.contributor.author |
Шульга, А. В. |
|
dc.date.accessioned |
2019-02-01T11:51:31Z |
|
dc.date.available |
2019-02-01T11:51:31Z |
|
dc.date.issued |
2005 |
|
dc.identifier.citation |
Волноводный метод измерения параметров тонких пленок / А.В. Хомченко [и др.] // ЖТФ. - 2005. - Т.75, в.6. -С.98-106. |
ru_RU |
dc.identifier.uri |
http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/8548 |
|
dc.description.abstract |
Предложен полноводный метод определения коэффициента поглощения, показателя преломления и толщины тонких пленок, основанный на регистрации угловой зависимости энергетического коэффициента отражения светового пучка в схеме призменного устройства связи. Рассмотрено применение метода для исследования характеристик тонкопленочных волноводов, диэлектрических покрытий и металлических пленок. |
ru_RU |
dc.language.iso |
ru |
ru_RU |
dc.publisher |
ФГБ УН Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе |
ru_RU |
dc.subject |
полноводный метод определения коэффициента поглощения |
ru_RU |
dc.subject |
показатели преломления тонких пленок |
ru_RU |
dc.subject |
показатели толщины тонких пленок |
ru_RU |
dc.subject |
схема призменного устройства связи |
ru_RU |
dc.subject |
исследование характеристик тонкопленочных волноводов |
ru_RU |
dc.subject |
диэлектрические покрытия |
ru_RU |
dc.subject |
металлические пленки |
ru_RU |
dc.subject |
Публикации кафедры "Физика" |
|
dc.subject |
Публикации кафедры "Высшая математика" |
|
dc.title |
Волноводный метод измерения параметров тонких пленок |
ru_RU |
dc.type |
Article |
ru_RU |