dc.contributor.author |
Шульга, А. В. |
|
dc.contributor.author |
Хомченко, А. В. |
|
dc.date.accessioned |
2019-02-04T08:30:57Z |
|
dc.date.available |
2019-02-04T08:30:57Z |
|
dc.date.issued |
2013 |
|
dc.identifier.citation |
Шульга, А. В. Измерение ширины спектра излучения волноводным методом / А. В. Шульга, А. В. Хомченко // Журнал прикладной спектроскопии. – 2013. – Т. 80. – № 6. – С. 937-940. |
ru_RU |
dc.identifier.uri |
http://e.biblio.bru.by/handle/1212121212/8556 |
|
dc.description.abstract |
Исследована зависимость характера пространственного распределения интенсивности регистрируемой m-линии в случае возбуждения волноводной моды тонкопленочной структуры от частотных характеристик светового пучка. В качестве источника излучения с различной шириной спектра использованы полупроводниковые лазерные диоды с максимумами излучения при 635—670 нм, He—Ne-лазер и лампа накаливания, излучение которой пропускалось через монохроматор. Тонкопленочные волноводы с высокой хроматической дисперсией изготовлены на основе многослойных структур TiO2-SiO2, ZrO2-SiO2.
The dependence of a spatial distribution of the recorded m-line intensity on the light beam characteristics is investigated in the case of the waveguide mode excitation of a thin-film structure. Semiconductor laser diodes with the radiation maxima at wavelengths of 635—670 nm, a He—Ne laser, and an incandescent lamp the radiation of which passes through a monochromator have been used as the light sources with different spectrum widths. Thinfilm waveguides with high chromatic dispersion have been made on the basis of multilayer TiO2-SiO2, ZrO2-SiO2 structures. |
ru_RU |
dc.language.iso |
ru |
ru_RU |
dc.publisher |
ГНУ Институт физики им. Б.И. Степанова НАН Беларуси |
ru_RU |
dc.subject |
ширина спектра |
ru_RU |
dc.subject |
тонкопленочный волновод |
ru_RU |
dc.subject |
m-линия |
ru_RU |
dc.subject |
призменное устройство связи |
ru_RU |
dc.subject |
полупроводниковый лазер |
ru_RU |
dc.subject |
spectrum width |
ru_RU |
dc.subject |
thin-film waveguide |
ru_RU |
dc.subject |
m-line |
ru_RU |
dc.subject |
prism coupler |
ru_RU |
dc.subject |
semiconductor laser |
ru_RU |
dc.subject |
Публикации кафедры "Физика" |
|
dc.title |
Измерение ширины спектра излучения волноводным методом |
ru_RU |
dc.type |
Article |
ru_RU |
dc.identifier.udc |
535.32:621.375.8 |
|